Радиочастотная рефлектометрия была применена к устройствам на основе нанопроводов PbTe-Pb, выращенных методом селективного эпитаксиального роста на подложке CdTe. Данные нанопровода предсказаны как системы, способные содержать майорановские нулевые моды. Продемонстрирована совместимость ВЧ-метода, включая резистивное и ёмкостное зондирование, с такими структурами. Количественно охарактеризовано влияние диэлектрических потерь в подложке CdTe. Подтверждена применимость рефлектометрии в условиях конечных магнитных полей, необходимых для возникновения состояний с нулевой энергией. Полученные результаты обеспечивают быстрое управление квантовыми устройствами на основе PbTe, открывая путь к их использованию в топологических квантовых вычислениях.