Короткая вспышка света падает на лист графена — и в месте удара на миг открывается энергетическая щель, будто в сплошной ткани прорезается карман. Этот карман живёт лишь мгновение, но именно его можно разглядеть новым прибором — терагерцовым сканирующим туннельным микроскопом (он совмещает остриё, ощупывающее поверхность атом за атомом, и импульсы света с частотой в триллионы колебаний в секунду).

Обычно такие щели видят по тому, как электроны проходят сквозь материал целиком. Здесь же остриё микроскопа подходит к выбранной точке и снимает ток — как палец, проверяющий, нагрелся ли утюг. Если в этом месте свет открыл щель, ток меняется. Так удаётся нарисовать карту: где именно свет сильнее всего перестраивает электронные уровни.

Особенно интересны края графеновых лент. Там при освещении возникают проводящие дорожки, по которым электроны бегут только в одну сторону, как по эскалатору. Если лента слишком узкая, защита этих дорожек ломается — и это видно по смазанным пятнам на карте токов. Авторы вычислили, при какой ширине это происходит.

Ещё один фокус: примесь, закручивающая электроны в одну сторону, оставляет на карте характерный узор. По нему можно понять, куда именно бегут электроны по краю. Такой микроскоп станет инструментом для проверки материалов, из которых собираются делать сверхбыструю электронику.