Un breve destello de luz incide sobre una lámina de grafeno, y en el punto de impacto se abre por un instante una brecha energética, como si en una tela continua se cortara un bolsillo. Ese bolsillo dura solo un momento, pero es precisamente lo que se puede observar con el nuevo instrumento: el microscopio de efecto túnel de barrido de terahercios (que combina una punta que explora la superficie átomo por átomo con pulsos de luz de billones de oscilaciones por segundo).
Normalmente, estas brechas se detectan observando cómo los electrones atraviesan el material en su conjunto. Aquí, en cambio, la punta del microscopio se acerca a un punto elegido y mide la corriente, como un dedo que comprueba si la plancha se ha calentado. Si la luz ha abierto una brecha en ese lugar, la corriente cambia. Así se logra trazar un mapa: dónde exactamente la luz reorganiza con mayor intensidad los niveles electrónicos.
Los bordes de las cintas de grafeno resultan especialmente interesantes. Allí, bajo iluminación, aparecen caminos conductores por los que los electrones corren en una sola dirección, como en una escalera mecánica. Si la cinta es demasiado estrecha, la protección de esos caminos se rompe, y esto se ve como manchas borrosas en el mapa de corrientes. Los autores calcularon a qué anchura ocurre esto.
Otro truco: una impureza que hace girar a los electrones en una dirección deja un patrón característico en el mapa. Con él se puede deducir hacia dónde se dirigen los electrones a lo largo del borde. Este microscopio se convertirá en una herramienta para examinar los materiales con los que se planea fabricar electrónica ultrarrápida.
La radiación de terahercios se sitúa entre las microondas y la luz infrarroja. Atraviesa la ropa y el papel, pero no el metal, por lo que se utiliza en los escáneres de seguridad de los aeropuertos.