Un microscope à rayons X voit deux fois plus net express
Une radiographie de batterie ressemble à une photo prise à travers un verre dépoli : les petits détails se fondent en une tache grise. La cause est la limite du détecteur lui-même, qui ne distingue pas les détails plus petits que son pixel. Des ingénieurs ont proposé de contourner cet obstacle en éclairant l'échantillon non pas avec un faisceau uniforme, mais avec un motif strié.
Les stries agissent comme un pochoir : elles transfèrent l'information sur les structures les plus fines vers les parties de l'image que le détecteur voit bien. En décalant le motif plusieurs fois et en prenant des clichés, l'ordinateur décompose ces données et reconstitue une image avec des détails deux fois plus petits que la limite précédente.
Le même principe s'applique non seulement aux rayons X classiques, mais aussi au contraste de phase et à l'imagerie en champ sombre, qui révèlent des détails invisibles par les méthodes ordinaires. Cela ouvre la voie à l'inspection des matériaux et à l'imagerie médicale avec des détails qui étaient auparavant inaccessibles sans équipements encombrants.
Une amélioration de la résolution par un facteur 2,2 signifie que sur le même détecteur, on peut voir des détails qui se confondaient auparavant en un seul pixel.