تقنية تحليل طيفي تُستخدم لدراسة الحالات الإلكترونية الطوبولوجية والخصائص السطحية في المواد.التحليل الطيفي الطوبولوجي هو مجموعة من التقنيات التجريبية التي تفحص البنية الإلكترونية للمواد للكشف عن خصائصها الطوبولوجية. تمتلك المواد الطوبولوجية حالات إلكترونية محمية بالتناظر، فهي مقاومة للاضطراب والتشوه. غالبًا ما تظهر هذه الحالات على سطح المادة أو حوافها، حتى لو كان الجزء الداخلي عازلًا. يهدف التحليل الطيفي الطوبولوجي إلى رصد هذه الحالات مباشرة ورسم علاقة الطاقة-الزخم الخاصة بها، وهو أمر ضروري لفهمها واستغلالها.
ظهر هذا المجال في منتصف العقد الأول من القرن الحادي والعشرين بعد التنبؤ النظري بالعوازل الطوبولوجية من قبل كين وميلي (2005) وبرنفيغ وهيوز وتشانغ (2006). جاءت أولى التأكيدات التجريبية باستخدام مطيافية الضوئي ذات الزاوية المحلولة (ARPES) في الفترة 2007-2009 لآبار كمومية من HgTe وسبائك BiSb.
الطرق الأكثر شيوعًا هي مطيافية الضوئي ذات الزاوية المحلولة (ARPES) والمجهر النفقي الماسح (STM). تسلط ARPES ضوءًا فوق بنفسجيًا أو أشعة سينية على عينة وتقيس طاقة وزاوية الإلكترونات المنبعثة، مما يرسم بنية النطاقات مباشرة. يستخدم STM طرفًا حادًا لنفق الإلكترونات إلى السطح أو خارجه، مما يوفر دقة مكانية وطاقية للحالات الإلكترونية. في المواد الطوبولوجية، تكشف هذه التقنيات عن المخاريط المميزة لديراك أو الحالات السطحية الحلزونية التي تعبر فجوة النطاق، مما يؤكد الطبيعة الطوبولوجية للمادة.
التحليل الطيفي الطوبولوجي ضروري لتمييز المواد المستخدمة في أجهزة الكمبيوتر الكمومية المستقبلية والأجهزة الإلكترونية المغزلية، حيث يمكن استخدام الحالات السطحية القوية لنقل المعلومات دون تبديد.
الحالات السطحية للعازل الطوبولوجي 'مقيدة باللف المغزلي' — حيث يرتبط اتجاه لف الإلكترون بزخمه، مما يعني أن التشتت الخلفي ممنوع، وهذا هو السبب في أنها توصل الكهرباء دون مقاومة للاضطراب.
| n_s | متغير | Scalar spectral index — مؤشر طيفي قياسي |
| N | متغير | Number of e-folds of inflation — e folds |



