Микроскоп, который строит карту топографии поверхности, измеряя силы между острой иглой и образцом.Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — это устройство, которое получает изображения поверхностей на нанометровом масштабе, физически «ощупывая» их чрезвычайно острой иглой, а не используя свет или электроны. Игла, закреплённая на гибкой консоли (кантилевере), сканирует образец. Когда игла приближается к поверхности, межатомные силы (такие как силы Ван-дер-Ваальса, электростатические силы или даже химические связи) вызывают изгиб кантилевера. Измеряя этот изгиб с помощью лазера и фотодетектора, АСМ строит топографическую карту поверхности с атомным разрешением. Он может работать с проводниками, диэлектриками и даже с живыми биологическими образцами в жидкости.
АСМ был изобретён в 1986 году Гердом Биннигом, Кэлвином Куэйтом и Кристофом Гербером, после того как Бинниг ранее изобрёл сканирующий туннельный микроскоп (СТМ). Он быстро стал незаменимым инструментом в нанонауке, поскольку позволял получать изображения непроводящих образцов.
АСМ работает в нескольких режимах. В контактном режиме игла волочится по поверхности, а изгиб поддерживается постоянным с помощью цепи обратной связи. В полуконтактном (tapping) режиме кантилевер колеблется на своей резонансной частоте, и игла лишь слегка касается поверхности, что уменьшает повреждения. Ключевую роль играет система обратной связи: компьютер регулирует высоту иглы, чтобы поддерживать постоянную силу или амплитуду, и эти регулировки записываются как профиль высоты. Это позволяет АСМ измерять не только топографию, но и механические свойства, такие как жёсткость и адгезия.
АСМ используется в материаловедении для характеризации тонких плёнок, в биологии для визуализации ДНК и белков, а также в полупроводниковой промышленности для контроля поверхности чипов.
Самые острые иглы АСМ настолько тонкие, что могут заканчиваться одним атомом, что позволяет исследователям визуализировать отдельные атомы и даже манипулировать ими.




