Короткая вспышка рентгеновского излучения, используемая для регистрации сверхбыстрых структурных изменений в материалах.Рентгеновская вспышка — это чрезвычайно короткая, интенсивная вспышка рентгеновского излучения, обычно длящаяся всего несколько фемтосекунд (квадриллионных долей секунды). Такие вспышки генерируются крупными установками, например, рентгеновскими лазерами на свободных электронах (XFEL), и используются для получения «моментальных снимков» атомов и молекул в движении. Благодаря своей краткости, они позволяют запечатлеть процессы, происходящие за время, сравнимое с периодом колебаний атомов, такие как разрыв химических связей, фазовые переходы или плавление магнита.
Идея использования коротких рентгеновских импульсов для изучения динамики восходит к 1980-м годам, но практическая реализация стала возможной с появлением рентгеновских лазеров на свободных электронах, начиная с Linac Coherent Light Source (LCLS) в США в 2009 году.
Этот метод часто называют спектроскопией «накачка-зондирование». Первый лазерный импульс (накачка) запускает реакцию или изменение в образце. Затем, после точно контролируемой задержки, рентгеновская вспышка (зонд) попадает на образец. Рентгеновские лучи дифрагируют на атомах, и полученная картина раскрывает их положение в данный момент времени. Повторяя эксперимент с разными задержками, ученые собирают фильм процесса. Сама рентгеновская вспышка генерируется путем ускорения электронов до скорости, близкой к скорости света, и пропускания их через слаломную траекторию из магнитов, что заставляет их излучать когерентное рентгеновское излучение.
Рентгеновские вспышки используются для изучения фотосинтеза, создания более эффективных солнечных элементов, понимания функций белков в медицине и разработки новых материалов с заданными свойствами.
Одна рентгеновская вспышка от XFEL может быть настолько интенсивной, что испаряет образец, но данные собираются до того, как образец разрушается.












